Для исследования кристаллической структуры материалов в условиях заводских лабораторий, промышленных предприятий и научно-исследовательских институтов, позволяют проводить рентгеноструктурный анализ кристаллических порошков, определять качественный и количественный фазовый состав и структуру твердых тел, параметры элементарной ячейки, микронапряжения в кристаллах, посредством измерения углов дифракции рентгеновских лучей по положениям максимумов интенсивности дифракционной картины, для контроля производства и качества продукции в металлургической, электротехнической, керамической, целлюлозно-бумажной, фармацевтической промышленностях, а также анализа объектов окружающей среды.
