Системы контрольно-измерительные для функционального и параметрического контроля БИС и ИМС тестеров Formula-99, 19812-00

Спецраздел. Для проведения функционального и параметрического контроля микросхем с числом выводов до 256 на пластине и в корпусах с рабочей частотой последовательности функционального контроля до 10 МГц; тестеры применяются для выходного контроля параметров и правильности функционирования БИС при их разработке и производстве, а также для входного контроля качества БИС, используемых в радиотехнической аппаратуре, вычислительной технике, АСУ объектов сферы обороны, безопасности и промышленности.