% Акции
Новости
Пн-Пт, 09:00 — 18:00
pribor@pover.ru
8 800 350-99-41
+7 495 150-57-72
Обратный звонок
Личный кабинет
Заказать поверку
Портал
О портале
Партнерам
Реквизиты
Новости
Вакансии
Поверка СИ
Поверяемое оборудование
Прайс-лист
Порядок сдачи СИ
Область аккредитации
Испытания СИ
Виды измерений
Виды услуг
Область аккредитации
Узнать стоимость работ
Аттестация ИО
Госреестр СИ
Справочник СИ
Реестр поверочных лабораторий
Результаты поверок СИ
Библиотека
Каталог категорий типов СИ
Государственные схемы поверки
Нормативно-техническая документация
Нормативно-правовые акты
Термины и определения
Статьи
Вопрос-ответ
Контакты
% Акции
+7 495 150-57-72
8 800 350-99-41
Пн-Пт, 09:00 — 18:00
pribor@pover.ru
Заказать поверку
Приборы в госреестре от производителя Учреждение РАН Институт физики полупроводников им.А.В.Ржанова Сибирского отделения РАН (ИФП СО РАН), г.Новосибирск
Справочник СИ
Реестр поверочных лабораторий
Главная
Госреестр СИ
Учреждение РАН Институт физики полупроводников им.А.В.Ржанова Сибирского отделения РАН (ИФП СО РАН), г.Новосибирск
48115-11
2011
Комплекты мер высоты СТЕПП-ИФП-1
Учреждение РАН Институт физики полупроводников им.А.В.Ржанова Сибирского отделения РАН (ИФП СО РАН), г.Новосибирск
Срок действия реестра:
31.10.2016
Описание типа
Поиск по реестру
Год регистрации
—
Показать
Сбросить