Государственный реестр средств измерений

Справочник СИ Реестр поверочных лабораторий

Главная Госреестр СИ

60143-15

60143-15

2015

Приборы для измерений параметров шероховатости и контура поверхности Nanoscan 755, Nanoscan 855

"HOMMEL-ETAMIC GmbH", Германия

Срок действия реестра: 13.03.2020

34765-07

34765-07

2007

Приборы для измерений параметров шероховатости и контура поверхности MarSurf XCR 20

"Mahr GmbH", Германия

Срок действия реестра: 22.04.2018

Год регистрации

—

Сбросить