| Номер в госреестре | 97851-26 |
| Наименование СИ | Спектрометры атомно-эмиссионные с микроволновой плазмой |
| Обозначение типа СИ | СМ ОПТИК |
| Изготовитель | Акционерное общество «Спецмагнит» |
| Год регистрации | 2026 |
| МПИ (интервал между поверками) | 1 год |
| Описание типа | скачать |
| Методика поверки | скачать |
Спектрометры атомно-эмиссионные с микроволновой плазмой СМ ОПТИК (далее -спектрометры) предназначены для измерения содержания элементов в металлах, сплавах, материалах и технологических растворах.
Принцип действия спектрометров основан на определении элементного состава вещества по оптическим спектрам излучения атомов и ионов анализируемой пробы, возбуждаемых СВЧ-насыщаемой плазмой азота. Последующее определение содержания элементов в исследуемом веществе производится при помощи градуировочных зависимостей, которые экспериментально устанавливаются по стандартным образцам состава путем вычисления зависимости между величиной выходного сигнала, характеризующего аналитическую спектральную линию определяемого элемента, и содержанием элементов в стандартных образцах состава.
Конструктивно спектрометры представляют собой настольные лабораторные приборы, собранные в блочном исполнении, и включают в себя блок источника возбуждения спектров и спектральный блок.
Блок источника возбуждения спектров включает в себя следующие узлы:
- водоохлаждаемый плазмотрон разряда электромагнитного импульса (ЕМП-разряд) атмосферного давления;
- микроволновой генератор на магнетроне непрерывного действия с водоохлаждением и мощностью ~1,5 кВт;
- блок высоковольтного питания ВВБП;
- система подачи и регулирования потоков плазмообразующего газа (азот) и транспортирующего газа (аргон);
- система распыления и подачи раствора пробы в плазму ЕМП-разряда с перистальтическим насосом.
Спектральный блок включается в себя следующие узлы:
- оптический дифракционный полихроматор;
- многоэлементная система регистрации спектров на основе линейных фотодиодных ПЗС-детекторов.
Спектрометры укомплектованы персональным компьютером с программным обеспечением (далее - ПО), внешней системой водяного охлаждения (рециркулятор).
Анализируемая проба в жидком виде при помощи перистальтического насоса подается в систему распыления, в которой также подается транспортирующий поток аргона из системы подачи и регулирования потоков газов. В системе распыления образуется аэрозоль пробы, который с транспортирующим потоком аргона поступает в плазмотрон. В плазмотрон вместе с несущим аэрозоль пробы потоком аргона независимо подается поток плазмообразующего газа азота, а также создается мощное электромагнитное поле от микроволнового генератора. В плазмотроне зажигается емкостной электродный ЕМП-разряд.
В плазме ЕМП-разряда капли аэрозоля раствора пробы испаряются, атомы элементов пробы атомизирются, частично ионизируются и возбуждаются. Все возбужденные атомы и ионы раствора пробы излучают характеристические спектры основных и примесных элементов растворов вводимой пробы. Излучение плазмы поступает в полихроматор, где происходит разложение в спектр оптического излучения плазмы и последующее измерение интенсивности спектральных линий анализируемых элементов с помощью многоэлементной системы регистрации спектров на основе линейных фотодиодных ПЗС-детекторов. Затем при помощи персонального компьютера со специализированным ПО происходит обработка и анализ полученной информации.
Корпуса спектрометров изготовлены из металлических сплавов и окрашены в цвета в соответствии с технической документацией производителя.
Каждый экземпляр спектрометров имеет заводской номер, расположенный на информационной табличке на передней панели спектрометра. Заводской номер имеет цифровой формат и нанесен типографским способом.
К данному типу СИ относятся спектрометры с заводскими номерами 14 и 15.
Нанесение знака поверки на средство измерений не предусмотрено.
Общий вид спектрометров и место нанесения заводского номера представлены на рисунках 1-2.
Рисунок 1 - Общий вид спектрометра атомно-эмиссионного
с микроволновой плазмой СМ ОПТИК, зав. № 14, и место нанесения заводского номера
Рисунок 2 - Общий вид спектрометра атомно-эмиссионного
с микроволновой плазмой СМ ОПТИК, зав. № 15, и место нанесения заводского номера
Пломбирование спектрометров не предусмотрено. Конструкция спектрометров обеспечивает ограничение доступа к частям спектрометров, несущим первичную измерительную информацию, и местам настройки (регулировки).
Спектрометры оснащены ПО, позволяющим осуществлять контроль состояния и управление спектрометром, проводить установку режимов работы прибора, обработку, представление и хранение результатов измерений; выполнять построение градуировочных графиков и проводить диагностические тесты.
Уровень защиты ПО спектрометров от непреднамеренных и преднамеренных изменений соответствует уровню «Средний» по Р 50.2.077-2014.
Идентификационные данные ПО спектрометров приведены в таблице 1.
Таблица 1 - Идентификационные данные ПО_________________________________________
| Идентификационные данные (признаки) | Значение для спектрометра | |
| Спектрометр, зав. № 14 | Спектрометр, зав. № 15 | |
| Идентификационное наименование ПО | Градуировка | GradSL |
| Номер версии (идентификационный номер) ПО | 5.3.X.X1) | 1.X.X.X1) |
| Цифровой идентификатор ПО | - | - |
| 1) «Х» не относится к метрологически значимой части ПО и может принимать значения от 0 до 99. | ||
Влияние ПО на метрологические характеристики спектрометров учтено при нормировании характеристик.
Таблица 2 - Метрологические характеристики
| Наименование характеристики | Значение для спектрометра | |
| Спектрометр, зав. № 14 | Спектрометр, зав. № 15 | |
| Предел обнаружения (по критерию 3 с), мг/дм3, не более: - кобальт (Co, 350,632 нм) | 2,0 | 2,5 |
| - никель (Ni, 349,259 нм) | 1,5 | 4,0 |
| - медь (Cu, 327,396 нм) | 1,0 | 1,0 |
| - хром (Cr, 425,433 нм) | 2,0 | 5,0 |
| - марганец (Mn, 403,076 нм) | 1,0 | 2,0 |
| Предел допускаемого относительного среднего квадратического отклонения результатов измерений | 3,5 | |
| выходного сигнала, % | ||
Таблица 3 - Основные технические характеристики
| Наименование характеристики | Значение для спектрометра | |
| Спектрометр, зав. № 14 | Спектрометр, зав. № 15 | |
| Спектральный диапазон, нм | от 209 до 440 | от 240 до 257 от 312 до 453 |
| Спектральное разрешение, нм, не более | 0, | 03 |
| Габаритные размеры блока источника возбуждения спектров, мм, не более: - высота - ширина - длина | 5 7 4 | 40 00 83 |
| Габаритные размеры спектрального блока, мм, не более: - высота - ширина - длина | 410 210 580 | 4201) 1001) 5401) |
| Общая масса, кг, не более | 55 | |
| Параметры электрического питания (трехфазная сеть переменного тока): - напряжение переменного тока, В - частота переменного тока, Гц | 380+57 50 ± 2 | |
| Потребляемая мощность, В^А, не более | 3000 | |
| Условия эксплуатации: - температура окружающей среды, °С - относительная влажность, %, не более | от +15 до +25 80 | |
1) Приведены значения габаритных размеров блока без учета удерживающего штатива.
наносится на титульный лист руководства по эксплуатации типографским способом.
Таблица 4 - Комплектность средства измерений
| Наименование | Обозначение | Количество |
| Спектрометр атомно-эмиссионный с микроволновой плазмой | СМ ОПТИК | 1 шт. |
| Внешняя система водяного охлаждения (рециркулятор) | - | 1 шт. |
| Персональный компьютер с программным обеспечением | - | 1 шт. |
| Руководство по эксплуатации | СмИ.414220.006.000 РЭ | 1 экз. |
| Паспорт | СмИ.414220.006.000 ПС | 1 экз. |
| Программное обеспечение «GradSL» Руководство пользователя | - | 1 экз. |
| Программное обеспечение «ГРАДУИРОВКА» Руководство пользователя | - | 1 экз. |
| Методика поверки | - | 1 экз. |
приведены в приложениях А-Г руководства по эксплуатации СмИ.414220.006.000 РЭ «Спектрометры атомно-эмиссионные с микроволновой плазмой СМ ОПТИК. Руководство по эксплуатации».
Применение спектрометров в сфере государственного регулирования обеспечения единства измерений осуществляется в соответствии с аттестованными методиками (методами) измерений.
Приказ Росстандарта Российской Федерации от 19.02.2021 г. № 148 «Об утверждении Государственной поверочной схемы для средств измерений содержания неорганических компонентов в жидких и твердых веществах и материалах»
