Главная Госреестр СИ Масс-спектрометр вторично-ионный микрозондовый IMS-7f

Масс-спектрометр вторично-ионный микрозондовый IMS-7f, 44975-10

Для измерений массы вторичных ионов, возникающих при послойном травлении исследуемого объекта потоком первичных ионов. Прибор применяется для контроля дозы имплантации, измерений глубин р-n переходов, разработки технологических процессов, послойного элементного анализа в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, медицине, металлургии.

Документы

Описание типа

Карточка СИ

Номер в госреестре	44975-10
Наименование СИ	Масс-спектрометр вторично-ионный микрозондовый
Обозначение типа СИ	IMS-7f
Изготовитель	"Cameca", Франция
Год регистрации	2010
МПИ (интервал между поверками)	1 год
Описание типа	скачать

Зарегистрировано поверок	1
Поверителей	1
Актуальность данных	24.10.2025

Поверители

ОАО "НИЦПВ"

1 поверка

Номер в ГРСИ РФ:

44975-10

Производитель / заявитель:

"Cameca", Франция

Год регистрации:

2010

Заказать поверку

Похожие СИ

94686-25

2025

Датчики силоизмерительные тензорезисторные Z16AD1/7.5t

Hottinger Brüel & Kjaer GmbH, Германия

Описание типа

Методика поверки

77490-25

2025

Термоиндикаторы пороговые одноразовые ТИ6-1

Общество с ограниченной ответственностью "Термоконт-МК" (ООО "Термоконт-МК"), Московская обл., г. о. Ленинский, г. Видное; Общество с ограниченной ответственностью "ИНКОБО" (ООО "ИНКОБО"), г. Москва

Срок действия реестра: 16.06.2030

Описание типа

Методика поверки

95675-25

2025

Магазины сопротивлений М640А

MEATEST spol. s r.o., Чехия

Срок действия реестра: 16.06.2030

Описание типа

Методика поверки

95674-25

2025