Для высокопроизводительного автоматизированного экспресс-анализа кристаллической структуры материалов в условиях заводских лабораторий и промышленных предприятий, позволяют проводить рентгеноструктурный анализ кристаллических порошков, определяют качественный и количественный фазовый состав материалов, микронапряжений и кристаллах, параметры элементарной ячейки.
Карточка СИ
| Номер в госреестре |
21686-01 |
| Наименование СИ |
Дифрактометры рентгеновские
|
| Обозначение типа СИ |
D4 Endeavor |
| Изготовитель |
"Bruker AXS GmbH" |
| Год регистрации |
2001 |
| Срок свидетельства |
01.07.2011 |
| МПИ (интервал между поверками) |
1 год; с 2006 г. - 2 года |
| Описание типа |
скачать |
