Для определения изменения параметров кристаллических структур образцов в зависимости от внешних условий (механических напряжений) посредством измерения углов дифракции рентгеновских лучей. Область применения - машиностроение, металлургическая, горнодобывающая, химическая, электронная и другие отрасли промышленности, а также научно-исследовательские лаборатории и лаборатории контроля качества.
Карточка СИ
| Номер в госреестре |
20931-08 |
| Наименование СИ |
Дифрактометры рентгеновские
|
| Обозначение типа СИ |
XSTRESS 3000 G3/G3R |
| Изготовитель |
"Stresstech OY" |
| Год регистрации |
2008 |
| Срок свидетельства |
01.06.2013 |
| МПИ (интервал между поверками) |
1 год |
| Описание типа |
скачать |
