Дифрактометры Xstress 3000, 20931-01

Для измерения параметров кристаллических структур образцов в зависимости от внешних условий (механических напряжений) посредством измерения углов дифракции рентгеновских лучей по положениям максимумов интенсивности дифракционной картины, для применения в машиностроении, металлургической, горно-перерабатывающей, химической, электронной и других отраслях промышленности, в также научно-исследовательских лабораториях и лабораториях контроля качества.