Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением, применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров и генной инженерии, создании наноструктурныхматериалов, запоминающих сред, химии и химической технологии, металлургии, в лабораториях промышленных предприятий, научно-исследовательских и учебных организаций.
Карточка СИ
| Номер в госреестре |
28664-10 |
| Наименование СИ |
Микроскопы сканирующие зондовые
|
| Обозначение типа СИ |
Ntegra SPECTRA, Ntegra PRIMA, Ntegra VITA, Ntegra THERMA, Ntegra AURA, Ntegra MAXIMUS, Ntegra SOLARIS, Ntegra SOLARIS Duo, Ntegra TOMO, Ntegra LIFE |
| Изготовитель |
ЗАО "Нанотехнология МДТ", г.Москва |
| Год регистрации |
2010 |
| Срок свидетельства |
07.05.2020 |
| МПИ (интервал между поверками) |
1 год |
| Стоимость поверки |
Узнать стоимость |
| Описание типа |
скачать |
| Методика поверки |
скачать |